當前位置:島津企業(yè)管理(中國)有限公司>>表面分析>>掃描探針顯微鏡>> SPM-9700HT掃描探針顯微鏡
探知未來
原子力顯微鏡(AFM)是在樣品表面用微小的探針進行掃描,,通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700HT更是性能高,、速度快,、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。
新開發(fā)的可快速響應(yīng)的HT掃描器加之軟件與控制系統(tǒng)設(shè)計的優(yōu)化,,成功實現(xiàn)掃描速度比傳統(tǒng)設(shè)備快5倍以上,。
別具一格的探針更換夾具,讓小心翼翼的探針更換操作變得簡捷輕松。
樣品交換時也可保持激光穩(wěn)定照射懸臂,。照射穩(wěn)定性優(yōu)異,,分析時間也大幅度縮短。
可從不同角度放大拉伸圖像進行確認,。鼠標操作簡單,,更可進行3D斷面形狀分析。
按照操作指南指導(dǎo)操作順序,,使用導(dǎo)航功能直接鎖定觀察位置,,實現(xiàn)了SPM的快速簡便的觀察
具備豐富的測定模式和優(yōu)異的擴展性,可對不同硬度,、不同導(dǎo)電性能等各式樣品進行觀察分析,。
控制氣氛掃描探針顯微鏡 WET-SPM
可以控制樣品和周邊環(huán)境,在可控氣氛下進行樣品處理,,并直接進行SPM觀察,。
選配系統(tǒng)具有溫度濕度控制單元、樣品加熱冷卻單元,、樣品加熱單元,、吹起單元。
粒度分析軟件
從圖像數(shù)據(jù)中選取復(fù)數(shù)顆粒,,對每一顆粒進行特征量的計算,,并進行分析、顯示,,以及及進行統(tǒng)計處理,。
產(chǎn)品外觀及功能規(guī)格如有更改,恕不另行通知,。請聯(lián)系本公司了解最新信息,。
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